ASIA unversity:Item 310904400/18758
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 94286/110023 (86%)
造访人次 : 21664856      在线人数 : 696
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻
    ASIA unversity > 資訊學院 > 資訊工程學系 > 期刊論文 >  Item 310904400/18758


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://asiair.asia.edu.tw/ir/handle/310904400/18758


    题名: Energy Capability of LDMOS as a Function of Ambient Temperature
    作者: 許健;Sheu, Gene
    贡献者: 資訊工程學系
    关键词: laterally diffused MOS(LDMOS);critical temperature;thermal failure;energy capability;ambient temperature;SOA;TCAD simulation
    日期: 2012-06
    上传时间: 2012-11-26 05:58:08 (UTC+0)
    摘要: Energy capability of a LDMOS device
    structure is shown to have nonlinear relationship with
    ambient temperature. Analytical model for energy
    capability has been discussed and is in good agreement
    with the simulation results. The dependency of critical
    temperature on ambient temperature is shown.
    關聯: ULIS 2012
    显示于类别:[資訊工程學系] 期刊論文

    文件中的档案:

    档案 描述 大小格式浏览次数
    index.html0KbHTML302检视/开启


    在ASIAIR中所有的数据项都受到原著作权保护.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回馈