運用精實六標準差手法於改善TFT-LCD 中 JI Process 之TAB 製程不良率

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Title:	運用精實六標準差手法於改善TFT-LCD 中 JI Process 之TAB 製程不良率
Authors:	黃彥綺
Contributors:	光電與通訊學系碩士在職專班
Keywords:	六標準差手法薄膜電晶體液晶顯示器捲帶式晶粒自動壓合
Date:	2014-07-09
Issue Date:	2014-09-03 07:30:36 (UTC+0)
Publisher:	Asia University
Abstract:	本研究六標準差手法為藉由界定(Define)、衡量(Measure)、分析(Analyze)、改善(Improve)、控制(Control)來達到減少製程中所產生的缺失並可達到提升製程中產品的良率。本研究為運用六標準差手法於改善個案K公司薄膜電晶體液晶顯示器(Thin film transistor liquid crystal display, TFT-LCD)中玻璃基板連接工程(JI process)之TAB(Tape Automated Bonding)製程不良率。經由六標準差手法(DMAIC)的應用，改善後個案K公司軟性印刷電路板線路壓合後精度提升，由原廠設計的11μm改善至6μm以下，再利用田口實驗出最佳製程參數：壓合時間5 sec、溫度180 ℃、壓力0.120 Ｍpa、速度1.5 mm/sec，個案K公司COF Misalignment由改善前不良率1649 dppm降低至821 dppm；其製程能力Cpk值也由0.69提升至1.55。另節省高達13,888,128元機台改造費用。本研究結果將可提供相關公司在其他產品或製程上執行六標準差手法的一種參考依據。
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